Muroga T., Fuji H., Izumi T., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Konishi M., Machi T., Ibi A., Kitoh Y., Nakao K.(nakao@istec.or.jp), Aokia Y., Shioharaa Y.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, YBCO, current distribution, Hall sensor, measurement technique
Fuji H., Izumi T., Aoki Y., Yamada Y.(yamada@istec.or.jp), Nakao K., Chikumoto N., Ibi A., Kitoh Y., Machi T.(machi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, optical imaging, measurement technique, length
Ключевые слова: HTS, REBCO, bulk, magnets, magnetron sputtering, trapped field, magnetic field distribution, power equipment, magnetic properties
Itoh Y., Yamada T., Mizutani U., Yanagi Y., Ikuta H.(ikuta@nuap.nagoya-u.ac.jp), Yoshikawa M., Latha B.
Yanagi Y.(yanagi@ai-i.aisin.co.jp), Matsuda T., Hazama H., Yokouchi K., Yoshikawa M., Itoh Y., Oka T., Ikuta H., Mizutani U.
Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Nakaoka K., Kitoh Y., Aoki Y.(y-aoki@istec.or.jp), Koyama T., Matuda J.S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, reel-to-reel process, TFA-MOD process, current distribution, fabrication
Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Teranishi R.(teranishi@istec.or.jp), Nakaoka K., Kitoh Y., Nomoto S.
Tokunaga Y., Izumi T., Aoki Y., Hirabayashi I., Chikumoto N., Matsuda J., Kitoh Y., Machi T.(machi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, optical imaging, defects, experimental results, fabrication
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A., Nakaoka K., Kitoh Y.
Ключевые слова: HTS, bulk, stress distribution, magnetization, trapped field, numerical analysis, magnetic properties
Itoh Y., Oka T., Mizutani U., Ikuta H., Yoshikawa M., Yanagi Y.(yanagi@ai-i.aisin.co.jp)
Itoh Y., Mizutani U., Yanagi Y., Ikuta H.(ikuta@nuap.nagoya-u.ac.jp), Yoshikawa M., Iwasaki T.
Ключевые слова: HTS, REBCO, bulk, fabrication, pinning, Jc/B curves, peak effect, trapped field distribution, experimental results, critical caracteristics, magnetic properties
Koshizuka N.(koshizuka@istec.or.jp), Ishikawa F., Nasu H., Murakami M., Matsunaga K., Saito S., Saito O., Nakamura Y., Yamamoto H., Takahata R., Itoh Y., Ikezawa H., Tomita M. .
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.